• Японские физики разработали метод мгновенного и точного измерения температуры внутри электронных чипов и чувствительных к нагреву приборов с помощью потока нейтронов низких энергий.
• Технология повысит эксплуатационные характеристики устройств и сделает их более безопасными для пользователей.
• Методика не является деструктивной и может использоваться для мониторинга температур внутри литиевых аккумуляторов, полупроводниковых устройств и других типов батарей.
• Система состоит из детекторов нейтронов и лазерной установки, способной генерировать поток нейтронов низких энергий.
• Свойства нейтронов подобраны таким образом, что они активно поглощаются ядрами атомов в изучаемых объектах, и частота взаимодействий зависит от температуры материала.
• Методика была проверена с использованием петаваттного лазера LFEX, который генерирует короткие, но интенсивные вспышки инфракрасного излучения.
• Пучки нейтронов позволяют отслеживать малейшие сдвиги в температуре материалов за 100 наносекунд и осуществлять контроль нагрева в режиме реального времени.
• Технология позволит разработчикам микросхем, аккумуляторов и других приборов отслеживать очаги перегрева и модифицировать структуру устройств для предотвращения проблем.