Разработан детектор для усиления работы растрового электронного микроскопа

• Ученые СОГУ разработали детектор для растрового электронного микроскопа.
• Детектор позволяет получить больше информации об объекте исследования.
• Обычный растровый микроскоп не может исследовать объекты на глубину до 1 мкм.
• Разработанный детектор позволяет увидеть подповерхностную структуру образца.
• Сканирование образца осуществляется электронным лучом, который создает тормозное рентгеновское излучение.
• Разработка ученых позволит углубить научные исследования и получать больше информации об объектах.
• Патент на детектор был получен авторами, включая Ивана Силаева, Тамерлана Магкоева, Заурбека Созаева и Татьяну Радченко.