- Ученые МФТИ разработали новый метод для изучения дефектов в сверхпроводящих пленках - сканирующую квантово-вихревую микроскопию (СКВМ).
- СКВМ позволяет визуализировать несовершенства структуры в толще материала с разрешением на порядок выше возможностей классической магнитной силовой микроскопии (МСМ).
- Метод находит скрытые дефекты, задавая новые стандарты в контроле качества сверхпроводников и сверхпроводящих приборов.
- В СКВМ вихрь «ухватывает» магнитный зонд и движется по поверхности, преодолевая внутренние неоднородности материала.
- Метод основан на взаимодействии вихря с дефектами и его отрыве от них при нагреве пленки.
- Результаты исследований опубликованы в журнале Mesoscience & Nanotechnology.
- Объектом исследования были ниобиевые пленки толщиной от 50 до 240 нанометров, полученные методом RF-магнетронного распыления.
- Метод позволяет различать тонкие элементы внутренней структуры и находить скрытые слабые места в сверхпроводящих пленках и наноустройствах.
