• Разработан новый метод сканирующей микроскопии для изучения дефектов в сверхпроводниках и наноустройствах.
• Метод позволяет отслеживать появление квантовых вихрей и манипулировать их свойствами с нанометровым разрешением.
• Это позволит более точно и быстро выявлять дефекты и изучать их влияние на сверхпроводящие свойства.
• Разработанный подход позволяет визуализировать квантовые вихреобразные структуры, предсказанные советскими физиками Львом Горьковым и Алексеем Абрикосовым.
• Квантовые структуры, называемые вихрями Абрикосова, представляют интерес для создания квантовых сенсоров и вычислительных устройств.
• Новая методика микроскопии позволяет решать задачи визуализации и управления квантовыми вихрями в сверхпроводниках.
• Опыты на образце сверхпроводящей пленки из ниобия показали разрешение около 20 нм, превосходящее ожидаемые ограничения.
• Новый метод ускорит изучение дефектов в сверхпроводниках и наноустройствах и разработку устройств на базе этих материалов.